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产品名称:美国TSI3330颗粒物径普仪

发布日期: 2016-01-14
产品简述:美国 TSI 3330 光学颗粒物粒径普仪,本产品是能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量的光学颗粒物粒径普仪 产品简介 3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便 能够对颗粒物浓
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美国TSI 3330光学颗粒物粒径普仪,本产品是能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量的光学颗粒物粒径普仪

产品简介

•3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便
•能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量
•基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验
•本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统
•从而得到高质量和高精度的数据
•同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性
•3330不仅可以单独使用
•还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用

产品特点

• 0.5微米时粒径分辨率小于5%
•粒径通道用户可调
•检测粒径范围:0.3-10微米,最多16通道
•颗粒物粒径感应范围:0.5至25 mm
•检测浓度范围:0-3000 个 /cm3
•彩色触摸屏,直观的用户界面
•完全满足ISO 21501-01/04要求
•输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
•收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
•电池电量可供20小时的操作
•最多可存储30000个数据
•记录每个样品的温度和压力
 
产品参数

测量原则 120°光散射和滤膜采样
浓度限制 最高3,000个/ cm3 (3,000,000个/L)
质量浓度 0.001-275,000 mg/m3
检测粒径范围 0.3-10μm
粒径分辨率 0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)
粒径通道 最多16通道,用户可调
检测浓度范围 0-3000 个 /cm3